元件級(jí)測(cè)試/鏈路級(jí)測(cè)試/應(yīng)用測(cè)試的關(guān)系
元器件測(cè)試—生產(chǎn)/選型/進(jìn)場(chǎng)測(cè)試
如TIA568C.2等定義
線纜(Cable)
模塊(Jack)
跳線(Patch Cable)
鏈路測(cè)試—安裝驗(yàn)收/開通測(cè)試
如GB50312-2007等定義
永久鏈路(Permanent Link)
通道(Channel)
應(yīng)用測(cè)試—驗(yàn)證應(yīng)用/升級(jí)預(yù)測(cè)
如IEEE802.3等定義
10/100Base-T、ATM155
1000Base-T、
1000Base-LX1000Base-Tx、
1G Cell10G Base-T、
10G Base-F……
區(qū)別圖如下：
本文關(guān)鍵字: 元件級(jí)測(cè)試, 應(yīng)用測(cè)試, 鏈路級(jí)測(cè)試
原創(chuàng)標(biāo)題：元件級(jí)測(cè)試/鏈路級(jí)測(cè)試/應(yīng)用測(cè)試的關(guān)系
原文鏈接：http://www.etrl0.cn/archives/different-fluke-test.html
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